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一鍵式全自動快速橢偏儀采用工業化設計，操作簡單，可在幾秒鐘內完成全自動測量和分析，并輸出分析報告。是用于薄膜測量和器件質量控制的解決方案。

Alpha-Step D-500臺階儀支持臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力的2D測量。 新的光學杠桿傳感器技術提供高分辨率測量，大垂直范圍和低觸力測量功能。 探針...

Alpha-Step D-600臺階儀探針式輪廓儀能夠測量從幾納米到1200微米的2D和3D臺階高度。 D-600還可以在研發和生產環境中支持粗糙度、翹曲度和應...

P-17臺階儀是臺式探針輪廓儀，是多年的表面量測經驗的結晶。支持對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力進行2D和3D測量，其掃描可達200mm而無需圖像拼接。

臺階儀是cassette-to-cassette探針式輪廓儀，可提供幾納米至一毫米的臺階高度測量功能，適用于生產環境。該系統可以對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力...

多波長橢偏儀采用壽命長 LED 光源和非移動 式部件橢偏探測器，可在操作簡單的緊湊型橢偏儀中實現可靠地薄膜測量。大多數厚度 0–1000 nm 的透明薄膜只需要...

智能型多功能橢偏儀是一款針對單層和多層薄膜進行簡單，快速，準確表征和分析的工具。 多功能性設計，配置靈活，具備多角度測量能力，可方便實現在線與離線配置切換。

Lumina AT2 薄膜缺陷檢測儀：實現亞納米薄膜涂層、納米顆粒、劃痕、凹坑、凸起、應力點和其他缺陷的全表面掃描和成像。實用于透明、硅、化合物半導體和金屬基底...

Profilm3D光學輪廓儀使用的垂直干涉掃描(WLI)與高精度的相位干涉(PSI)技術。以低價格實現次納米級的表面形貌研究。

KLA探針式臺階儀P-7：P-7支持從幾納米到一毫米的臺階高度測量，適用于生產和研發環境。該系統可以對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力進行2D和3D測量，其掃描可...

Lumina AT1薄膜缺陷檢測儀實現亞納米薄膜涂層、納米顆粒、劃痕、凹坑、凸起、應力點和其他缺陷的全表面掃描和成像。實用于透明、硅、化合物半導體和金屬基底。

多功能智能充電柜是一款多功能智能設備，旨在為用戶提供更便捷更安全的充電服務。它融合了安全、便利和智能化的特點,是為多設備、大功率設備充電的優秀工具，本充電柜外觀...

風洞項目：本試驗系統主要由風洞流道（及流道內拐角導流片）、風機組成。風洞流道主要如下圖所示。出風口設計3200mm*1200mm口徑，共計3個出風口。

甲烷非甲烷總烴檢測儀是一種甲烷非甲烷總烴分析儀，除了具有基于常規色譜儀的分離和測量系統外，AR2300-710F甲烷非甲烷總烴分析儀提供了靈活的觸摸屏式操作軟件...

氫火焰離子檢色譜檢測儀：色譜模塊的主要功能是實現樣品分離，混合樣品進入色譜柱后，各物質組分由于其物理化學性質的差異，使得各組分在流動相和固定相之間的分配系數不同...

超低溫前處理設備,釆用電制冷技術，制冷溫度可達 -50° C以下，在深冷條件下，對樣品進行物理除水，除水效率可達 99%以上，有效解決了樣品相對濕度變...

質譜檢測儀其工作原理是：經色譜柱分離后的樣品組分，隨載氣進入質譜，在離子源的作用下電離成帶電粒子， 利用帶電粒子在電場中的運動規律，按其質荷比（m/z）實現分離...

動態校準儀具有稀釋系統及多種氣體標準氣源入口，動態配置多種不同濃度的標準氣，實現對氣態分析儀的單點和多點校準的功能，可以接受控制指令進行自動零、跨（單點和多點）...

零氣發生器是提供潔凈、干燥的零級空氣的儀器。由空氣壓縮機和凈化單元構成，利用物理和化學的方法，將空氣凈化為無污染的清潔“零氣"。

在線顆粒物監測儀它是通過 β射線的衰減原理對空氣中顆粒物（PM10及 PM2.5）的濃度進行連續的分析和監測的儀器。